♦ Интуитивно понятный графический интерфейс упрощает настройку измерений, определение ВАХ и анализ данных.

♦ Предоставляет готовые к использованию тестовые элементы для MOSFET/BJT/диодов/резисторов для быстрого вызова.

♦ Функция автоматической последовательности испытаний для непрерывного выполнения нескольких проверок параметров устройств*1

♦ Интерактивное отображение данных в режиме реального времени ускоряет анализ результатов испытаний.

♦ Режим быстрого тестирования для одновременного тестирования до 32 каналов тестируемых устройств.

♦ Встроенная база данных позволяет пользователю сохранять и быстро вызывать данные и графики.

♦ Мощные инструменты анализа графиков, такие как автоматическое масштабирование и линейные операции.

♦ Возможности работы с несколькими осями Y, а также настраиваемый тип параметра и тип шкалы оси Y/X.

♦ Обеспечивает функцию индивидуального тестового задания*2.

♦ Программное обеспечение, совместимое с операционной системой Windows 7 (или выше).

♦ Испытательное приспособление IT-E803 для проверки маломощных диодов и Mosfet (42 В/1 А).

♦ Возможность использования с SMU серии IT2800, минимальное разрешение до 100 нВ/10 фА.

Готовые к использованию тестовые образцы значительно ускоряют определение характеристик полупроводниковых приборов. Программное обеспечение SPS5000 предоставляет удобные готовые к использованию тестовые элементы для различных типов полупроводниковых устройств, таких как MOSFET, BJTS, диоды и резисторы. Позволяет пользователю быстро выполнять настройку измерений и сбор данных без какого-либо вторичного программирования. Возьмем в качестве примера тест MOSFET. Общий процесс тестирования будет таким: определение тестовых переменных --- разработка методов тестирования ----- написание автоматизированных тестовый код ----- выполнение теста ----- анализ данных. Используя SPS5000, пользователь может упростить процесс тестирования в три этапа с помощью предустановленных элементов тестирования. Первый шаг — выбрать готовый к использованию тестовый элемент, например Id-Vd. Второй шаг – настройка условий измерения. Последний шаг — нажатие кнопки «Выполнить» для запуска теста. По завершении теста пользователь может автоматически получить данные и графики.

Режим автоматизированной последовательности испытаний для выполнения нескольких характеристических испытаний Программное обеспечение SPS5000 обеспечивает гибкий и высокоэффективный режим тестирования, позволяя пользователю формировать последовательность испытаний с несколькими готовыми к использованию элементами тестирования. Режим автоматизированной последовательности испытаний важен для эффективного сбора нескольких параметров полупроводникового устройства. Например, когда вы выбираете Тестовый элемент MOSFET Id-Vd, SPS5000 автоматически вызывает другие тестовые элементы с таким же проводным соединением, например Vth, FET Id-Vg. пользователи могут одновременно выполнять только один элемент теста (например, Id-Vd) или объединять их в последовательность для быстрого многопараметрического тестирования (Id-Vd ->Vth -> IonIoffslop ->…).

Функции автоматического анализа и графического отображения ускоряют анализ характеристик. Программное обеспечение для определения характеристик SPS5000 на основе графического пользовательского интерфейса позволяет пользователю быстро выполнить настройку измерений и получить результаты в графическом виде. Он не только напрямую отображает рассчитанные и извлеченные параметры, но также предоставляет мощные инструменты анализа графиков для дальнейшего анализа, такие как автоматическое масштабирование и линейные операции (постоянная линия, касательная линия и линия регрессии). Пользователь также может использовать функцию полосы, чтобы отметить на графике области среза или насыщения MOSET. Кроме того, SPS5000 поддерживает несколько осей Y. Пользователь может гибко настраивать типы данных по осям X и Y, логарифмический или линейный формат шкалы в соответствии с требованиями анализа.